模擬半導(dǎo)體設(shè)計(jì)創(chuàng)新領(lǐng)導(dǎo)者 Advanced Linear Devices Inc. 今天宣布推出其雙精度 CMOS 電壓比較器，該比較器提供業(yè)界首創(chuàng)的集成精密前置放大器和輸出驅(qū)動(dòng)器。使用 EPAD® 技術(shù)，ALD 集成了組件并減小了裸片尺寸，以提供采用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 8 引腳 SOIC 封裝的器件，從而為系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員在簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)和最小化各種精密應(yīng)用的電路板空間方面提供了額外的靈活性。

ALD2331/ALD2331A/ALD2331B 系列電壓比較器提供超低失調(diào)電壓和失調(diào)電流。該比較器采用先進(jìn)的硅柵 EPAD® CMOS 技術(shù)構(gòu)建，適用于高性能、高精度模擬應(yīng)用，例如需要低待機(jī)功耗和高輸出電流能力的低電平信號(hào)檢測(cè)電路。

該器件具有 1012Ω 的高典型輸入阻抗、10pA 的低輸入偏置電流和 750ns 的快速響應(yīng)時(shí)間，輸入階躍信號(hào)僅為 10mV。ALD EPAD 電壓比較器還具有 55uA 的低功耗和單 +5V 或雙電源操作。

ALD 首席執(zhí)行官兼總裁 Bob Chao 表示：“ALD 將其 EPAD 技術(shù)應(yīng)用于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的電壓比較器設(shè)計(jì)，并且能夠減小其尺寸并將三個(gè)組件組合在一個(gè)封裝中。” “這款電壓比較器的集成度為設(shè)計(jì)人員提供了前所未有的靈活性，可以簡(jiǎn)化他們的設(shè)計(jì)并最大限度地減少電路板空間。ALD 的 EPAD 精密微調(diào)技術(shù)使我們能夠顯著改進(jìn)設(shè)備特性和性能，從而使設(shè)計(jì)人員能夠改進(jìn)他們的系統(tǒng)設(shè)計(jì)。 "

該器件的輸入電壓包括地，因此非常適合用于具有高源阻抗的低電平信號(hào)檢測(cè)。輸出為開漏配置，可實(shí)現(xiàn)最大的應(yīng)用靈活性。這些特性非常適合高源阻抗電壓比較電路、雙限制窗口比較器、電源電壓監(jiān)視器、光電探測(cè)器傳感器電路等應(yīng)用。

ALD2331/ALD2331A/ALD2331B 雙通道精密 CMOS 電壓比較器ALD代理商現(xiàn)已開始供貨，訂購(gòu) 1,000 片時(shí)起價(jià)為 1.47 美元。